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     原位掃描電鏡-掃描電鏡顯微鏡原理-電子顯微鏡原理

    
    

    

  
    

  
    

    

  
    

  
    

    
    

      
    

        
    

          
    

            
    

              
    

         
                
    

   

               
    

            
    

            
    

              
    

                
    ZEM15原位掃描電鏡（SEM）
    

                
    產(chǎn)品分類：原位掃描電鏡
    

               
    由于該產(chǎn)品已進行多次功能升級和更新迭代，我們不保證ZEM15原位掃描電鏡（SEM）提供的圖片和各項參數(shù)等信息完全一致，我們建議您點擊此處聯(lián)系我們的在線工程師為您服務(wù)，同時我們也歡迎您電話咨詢：4001-123-022
    

              
    

            
    

            
    產(chǎn)品詳情 | PRODUCT DETAILS
    

          
    

          
    

            
    ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺，實現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。
    電鏡主機特色

    鼠標.jpg僅需鼠標即可完成所有操作，無須對中光闌等復(fù)雜步驟；
    亮度/對比度一鍵自適應(yīng)，自動/手動聚焦;

    視頻模式.jpg抽真空時間小于90秒；
    標配光學(xué)導(dǎo)航，搭配多樣品臺，實現(xiàn)快速找樣及切換樣品；

    采集帶寬.jpg信號采集帶寬10M，掃描速度快；
    視頻模式下實時觀察樣品，操作流暢，無卡頓；

    多探測器.jpg四分割背散射電子探測器（多種成像模式）、二次電子探測器；
    BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；

    無憂售后.jpg國內(nèi)生產(chǎn)、銷售、售后一體化服務(wù)；
    北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設(shè)備演示；

    原位拉伸臺參數(shù)
     
    載荷范圍：0-1000N
    位移分辨率：20nm
    加熱模塊：可選
    加載功能：拉伸、壓縮、三點彎曲